UNIK9330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling
Beskrivelse av emnet
Kort om emnet
Avbildning med optikk. Radiometri, Plancks str?lingslov, naturlige og kunstige kilder til synlig og infrar?dt lys, forplantning av lys gjennom atmosf?ren. Gjennomgang av forskjellige typer detektorer som omsetter lys til elektriske signaler, herunder fotodioder, fotoledere, bolometre og koherent deteksjon. Gjennomgang av st?ymekanismer i detektorer. Bildesensorer i ulike materialer, herunder silisium CCD og CMOS samt detektorer for termisk avbildning. Signalveien fra lys til digitale bildedata. Karakterisering av bildekvalitet. Kort om klassiske bildesensorer: film, kamerar?r og ?yet. Mye av stoffet illustreres med korte praktiske demonstrasjoner.
Hva l?rer du?
Emnet gir innsikt i virkem?ten til kameraer og andre optiske sensorer. Hovedvekten er p? detektorer og bildesensorer, der vi finner opphavet til begrepet "megapixel". Emnet er rettet mot de som bruker eller utvikler optiske avbildnings- og sensorsystemer, og gir ogs? nyttig bakgrunnsstoff for analyse av optiske bildedata.
Opptak og adgangsregulering
Ph.d.-kandidater ved UiO s?ker plass p? undervisningen og melder seg til eksamen i Studentweb.
Hvis emnet har begrenset kapasitet, vil ph.d.-kandidater som har emnet i sin utdanningsplan ved UiO bli prioritert. Noen nasjonale forskerskoler kan ha egne regler for rangering av s?kere til emner med begrenset kapasitet.
Ph.d.-kandidater som har opptak ved andre utdanningsinstitusjoner m? innen angitt frist s?ke om hospitantplass.
Forkunnskaper
Anbefalte forkunnskaper
Det er nyttig med forkunnskaper tilsvarende de gitt av FYS3410 – Kondenserte fasers fysikk (videref?rt), og grunnleggende fysikk for?vrig. Noe kjennskap til elektronikk og/eller signalbehandling er ogs? en fordel, men det blir gitt korte introduksjoner til stoff som hentes fra andre fagfelt.
Overlappende emner
- 10 studiepoeng overlapp mot UNIK4330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling (videref?rt)
- 10 studiepoeng overlapp mot TEK9050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling
- 10 studiepoeng overlapp mot TEK5050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling
Emnet overlapper 8 studiepoeng mot tidligere versjon av emnet, UNIKF351.
Undervisning
3 timer forelesning og regne?velser pr. uke. Det kreves innlevering av obligatoriske oppgaver som m? v?re best?tt for ? kunne g? opp til eksamen.
Eksamen
Muntlig eksamen. Ved stort antall kandidater kan det bli holdt skriftlig eksamen. De obligatoriske oppgavene m? v?re godkjent for ? kunne g? opp til eksamen.
Ph.d.-studenter skal i forhold til masterstudenter p? den klonede versjonen av emnet (UNIK4330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling (videref?rt)) levere en oppgave som demonstrerer god forst?else av en n?rmere bestemt del av pensum. Dette blir ogs? pr?vet p? eksamen. Tema for oppgaven kan tilpasses kandidatens bakgrunn og interesser. Oppgaven m? v?re godkjent f?r avsluttende eksamen.
Begrunnelse og klage
Adgang til ny eller utsatt eksamen
Studenter som dokumenterer gyldig frav?r fra ordin?r eksamen, kan ta utsatt eksamen i starten av neste semester.
Det tilbys ikke ny eksamen til studenter som har trukket seg under ordin?r eksamen, eller som ikke har best?tt.
Tilrettelagt eksamen
S?knadskjema, krav og frist for tilrettelagt eksamen.